パナソニック、HIT太陽電池の高いPID（電圧誘起出力低下）耐性を実証

　パナソニックグループ　エナジー社は、同社製HIT太陽電池モジュールがPID（Potential Induced Degradation：電圧誘起出力低下）に対して高い耐性を有することを、社内および第三者機関の検証結果により実証したと発表した。

　今回、第三者機関で実施された試験条件は、これまで複数機関から報告されている各種PID試験条件の中でも最も厳しい条件であり、検証結果は、パナソニック社製モジュールの高品質ならびに高信頼性を証明するものとなっている。

　PID現象とは、太陽電池モジュールでモジュール内部回路（太陽電池セル）と接地されたフレームとの間に高電圧がかけられた状態で温度や湿度などの外部要因が加わった場合に生じることがある出力低下現象で、太陽光発電システム全体の総出力を低下させる恐れがあるもの。一般にシステム電圧が高く、高温多湿な環境において起こりやすいとされている。

　HIT太陽電池は、以下の事実ならびに社内外での検証結果により、極めて高いPID耐性を有することが実証された。

　1） 一般的な結晶シリコン系太陽電池において、太陽電池セル表面の絶縁層が帯電することがPIDを引き起こす直接の原因と考えられているが、HIT太陽電池はセル最表面（両面）が透明導電膜であり、絶縁層を用いていないことから、セル構造上、PIDは起こり得ないと考えられること

　2） 欧州、米国、日本のこれまでの市場実績においてPID現象の発生の報告が全くないこと

　3） 複数型番のHIT太陽電池モジュールに対し、複数条件でPID耐性試験を社内外で実施し、特性低下が全く観測されなかったこと
　
　4） 第三者機関である株式会社ケミトックスで実施した試験条件の一つは摂氏60度、相対湿度85%、電圧1000V、試験時間96時間であり、これまで公開されてきた第三者機関の試験条件の中でも最も厳しい条件において出力の低下が見られなかったこと